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Diffraktometeraufbau an der Strahllinie BL9

Röntgen-ReflektivitätRöntgen-Reflektivität eines 135 Å dicken Polystyrol-Filmes auf einem 10 mm x 10 mm Silizium- Wafer gemessen bei einer Photonenenergie von 13 keV mit einer Strahlgröße von 1 mm x 0.2 mm.
SpektrumTypisches Diffraktionsspektrum zur Texturanalyse einer Hummerschalen-Probe aufgenommen mit dem MAR345 Flächendetektor (Der vergrößerte Ausschnitt des Diffraktogramms zeigt die starke Textur der Chitin-Reflexe in der Hummerschale.).
  • Typischer Energiebereich zwischen 9 und 27 keV
  • Entfernung Detektor-Probe: 1 m (Diffraktometer mit Punktdetektor) und 0.3 m - 1.1 m (MAR-Detektor)
  • Typische Strahlgröße: 1 x 1 mm² (Diffraktion) bzw. 1 x 0.2 mm² (Oberflächendiffraktion und Reflektivität)
  • Huber 6-Achsen Diffraktometer
  • Detektoren:
    • NaI Punktdetektor am Diffraktometerarm (Reflektivität, Oberflächendiffraktion)
    • MAR345 Flächendetektor mit Probe im Diffraktometer (Texturanalyse)
    • Amptek XR100CR Röntgendetektor (Fluoreszenzanalyse)
  • Fast-shutter und Absorbersystem (XIA) mit Autoabsorberfunktion
  • JJ X-ray Blendensysteme (Eingangs und Detektorblende)
  • Optional: Silizium-Spiegel
  • Methoden:
    • Röntgenreflektivität
    • Rötgenreflektivitäten bei 27 keV (Flüssig-fest Grenzflächen)
    • Diffraktion und Texturanalyse
    • Oberflächendiffraktion
    • X-ray standing waves